Tag: semiconductor metrology

Chip 3D có một vấn đề khó thấy theo đúng nghĩa đen: Startup muốn “nghe” lỗi nằm sâu bên dưới bề mặt

Chip 3D có một vấn đề khó thấy theo đúng nghĩa đen: Startup muốn ...

phult Tháng 9 5, 2026

Makr Microsystems đang phát triển Acoustic Atomic Force Microscopy, kết hợp đầu dò AFM với tín hiệu âm học để đo các cấu trúc bị c...