Tag: ATE
AI làm chip phức tạp đến mức kiểm thử trở thành một nút thắt mới
Chip tích hợp nhiều die và bộ nhớ cần những phép đo khác nhau trước và sau lắp ráp. Thách thức là mở rộng độ bao phủ lỗi mà vẫn gi...
Một chiplet lỗi có thể kéo hỏng cả gói chip AI: Vì sao phải kiểm ...
Chip AI ghép từ nhiều die và bộ nhớ cần được kiểm tra trước, trong và sau khi đóng gói. Mỗi lớp kiểm thử tìm một nhóm lỗi khác nha...
